DX - 30SST铁损测试仪：以爱泼斯坦方圈等为依据，快速检测硅钢片铁损及磁感应强度

DX-30SST 铁损测试仪采用爱泼斯坦方圈或标准磁导计（500SST/1000SST）作为检验评价硅钢片铁损的依据，用于测量取向和非取向硅钢片的质量比总损耗Ps和磁感应强度Bm。
它采用小型磁导率仪设计（30SST），通过将迹线传递至对侧环形样品的磁通源，确定有效磁路长度，并进行完全空气磁通补偿，从而满足单样品直接测量的需求， 迅速检测出不合格样品。